Download
Next
Previous

Le Pacte de la famille

1763
INV 2382 ; MR 1158
Département des Peintures
En dépôt : Bibliothèque municipale, Versailles
Inventory number
Numéro principal : INV 2382
Autre numéro d'inventaire : MR 1158
Artist/maker / School / Artistic centre
Bachelier, Jean Jacques (Paris, 1724 - Paris, 1806)
France École de

Description

Object name/Title
Titre : Le Pacte de la famille
Description/Features

Physical characteristics

Dimensions
Hauteur : 3,29 m ; Largeur : 1,78 m
Materials and techniques
toile

Places and dates

Date
3e quart du XVIIIe siècle (1763)

History

Object history
Salon de 1763. Collection de Louis XV. Ce tableau était destiné à décorer l'Hôtel des Affaires étrangères à Versailles sous Louis XV, de même que "Les Alliances de la France "(INV 2381) et "l'Europe savante" (INV 2383). D'abord déposé à Villefranche-sur-Saône et non "en 1872 à La Réunion", comme l'indique à tort l'inventaire Villot. Rentré de dépôt au musée du louvre en 1984. Déposé en 1985 à Versailles, Bibliothèque municipale, qui est l'ancien Hôtel des Affaires étrangères sous Louis XV.
Acquisition details
entrée - Collection de Louis XV
Owned by
Etat
Held by
Musée du Louvre, Département des Peintures

Location of object

Current location
Versailles (France), Bibliothèque municipale, salle d'exposition

Index

Bibliography

- Lesné, René, Un académicien au siècle des Lumières : Jean-Jacques Bachelier (1724-1806), Paris, RL, 2023, p. 76-77,80-83, ill.coul., p.82
- Mouradian, H. ; Salmon, Xavier, Jean-Jacques Bachelier (1724-1806) peintre du Roi et de Madame de Pompadour, Paris, Somogy éditions d'art, 1999, notice n° 107
- Foucart-Walter, Élisabeth, « Tableaux déposés par le Louvre », dans Compin, Isabelle ; Roquebert, Anne (dir.), Catalogue sommaire illustré des peintures du musée du Louvre et du musée d'Orsay. V. Ecole française. Annexes et index, Paris, Editions de la Réunion des musées nationaux, 1986, p. 194-394, p. 198
Last updated on 06.09.2023
The contents of this entry do not necessarily take account of the latest data.